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題 名 | Analyzing the Storage Defects from the Perspective of Synthetic Fault Injection |
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作 者 | Yoo, Balgeun; 李聖真; 元裕集; | 書刊名 | Journal of Information Science and Engineering |
卷 期 | 34:1 2018.01[民107.01] |
頁 次 | 頁1-20 |
分類號 | 312.74 |
關鍵詞 | Fault injection; Physical fault; Logical fault; Fault tolerance; Fault robustness; |
語 文 | 英文(English) |