查詢結果分析
來源資料
頁籤選單縮合
題名 | 半導體晶圓測試之探針卡服務品質探討--以探針卡製造商A公司為例=Research of Semiconductor Wafer Probing Probe Card Service Quality--Probe Card Supplier A as an Example |
---|---|
作者 | 余金昌; 陳建民; | 書刊名 | 中華管理發展評論 |
卷期 | 特刊 2017.06[民106.06] |
頁次 | 頁163-170 |
分類號 | 494.51 |
關鍵詞 | 服務品質; 顧客滿意度; 半導體產業; Service quality; Customer satisfaction; Importance-satisfaction; |
語文 | 中文(Chinese) |