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題名 | 專利侵害鑑定(下)=Patent Infringement Verification (Part Ⅱ) |
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作者 | 羅炳榮; Luo, Philip; |
期刊 | 智慧財產權月刊 |
出版日期 | 200312 |
卷期 | 60 2003.12[民92.12] |
頁次 | 頁16-55 |
分類號 | 440.6 |
語文 | chi |
關鍵詞 | 侵權分析; 申請專利範圍比對; 全要件原則; 文義侵害; 均等論下侵害; Infringement analysis; Claim comparison; All element rule; Literal infringement; Infringement under the doctrine of equivalents; |