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題名 | 奈米光學檢測--高解析度近場光學顯微鏡的應用=Nano-optics Detection--The Application of High Resolution Scanning Near-field Optical Microscope |
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作者 | 朱仁佑; Chu, J. Y.; |
期刊 | 工業材料 |
出版日期 | 20100700 |
卷期 | 283 2010.07[民99.07] |
頁次 | 頁75-84 |
分類號 | 471.713 |
語文 | chi |
關鍵詞 | 散射式掃描近場光學顯微鏡; 電漿子共振; 奈米光學; 藍光光碟; Scattering-type scanning near-field optical microscope; s-SNOM; Plasmon resonance; Nano-optics; Blue-ray disc; |