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題 名 | 發明專利審查基準之修正與審查實務變革--新增篇=Amendment of Patent Examination Guidelines and It’s Impact on Examination Practice--Part II |
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作 者 | 張仁平; | 書刊名 | 智慧財產權月刊 |
卷 期 | 171 2013.03[民102.03] |
頁 次 | 頁86-131 |
專 輯 | 新修訂發明專利審查基準議題探討 |
分類號 | 440.6 |
關鍵詞 | 最後通知; 修正限制; 申請專利範圍之減縮; 不明瞭記載之釋明; 獨立專利要件; 誤譯訂正; 超出申請時外文本所揭露之範圍; |
語 文 | 中文(Chinese) |
中文摘要 | 我國新專利法引入最後通知及誤譯訂正兩新制,發明專利審查基準配合新增兩章,將大幅影響未來之審查實務。 有關最後通知,申請人依先前審查意見通知提出修正後,雖已克服先前審查意見通知指出之全部不准專利事由,但因修正而產生新的不准專利事由時,須進一步通知申復或修正,若新的不准專利事由係歸責於申請人者,即得發給最後通知。反之,若係歸責於審查人員,包括先前審查意見漏未通知或先前審查意見不當,則不得發給最後通知,應發給審查意見通知。我國最後通知後之修正限制較日本寬鬆,對於「申請專利範圍之減縮」,並無限制條件,亦無獨立專利要件之規定。 有關誤譯訂正,以外文本提出申請而取得申請日之專利案,其補正之中文本內容若有誤譯情事,得申請誤譯訂正,惟不得超出申請時外文本所揭露之範圍。若非屬誤譯之情況,亦不得申請誤譯之訂正。 |
本系統中英文摘要資訊取自各篇刊載內容。