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題名 | 高階掃描探針顯微鏡的工業應用實例--新穎表面特性辨識技術=The Application on High Level SPM for Industrial Examples--A Novel Technology for Identification of Surface Property |
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作者 | 高豐生; 朱仁佑; Kao, F. S.; Chu, J. Y.; |
期刊 | 工業材料 |
出版日期 | 20160100 |
卷期 | 349 2016.01[民105.01] |
頁次 | 頁75-81 |
分類號 | 471.713 |
語文 | chi |
關鍵詞 | 原子力顯微鏡; 探針修飾; 分子辨識力顯微鏡; Atomic force microscopy; AFM; Probe modification; Molecular recognition force microscopy; MRFM; |