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題 名 | Applying One-class Kernel Machine to Defect Detection for Automated Inline Inspection of TFT-LCD=應用單類別核心機於TFT-LCD之自動化線上瑕疵偵測 |
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作 者 | 劉益宏; 李銘周; | 書刊名 | 機械工業 |
卷 期 | 291 2007.06[民96.06] |
頁 次 | 頁88-97 |
專 輯 | 智慧系統工程技術專輯 |
分類號 | 448.945 |
關鍵詞 | 瑕疵偵測; 薄膜電晶體液晶平面顯示器; 視覺檢測; 支持向量資料描述; 支持向量機; Defect detection; TFT-LCD; Visual inspection; Support vector data description; Support vector machine; |
語 文 | 英文(English) |