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題名 | 掃描探針顯微術於光電檢測之機制=Mechanisms of Scanning Probe Microscopy in Electro-Optical Analysis |
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作者 | 林宇軒; 蘇健穎; 潘漢昌; 蕭銘華; Lin, Yu-hsuan; Su, Chien-ying; Pan, Han-chang; Shiao, Ming-Hua; |
期刊 | 科儀新知 |
出版日期 | 20050600 |
卷期 | 26:6=146 2005.06[民94.06] |
頁次 | 頁52-62 |
分類號 | 448.57 |
語文 | chi |
關鍵詞 | 掃描探針顯微術; 光電檢測; |