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題名 | 應用六標準差之MAIC流程改善TFT-LCD面板之製程品質=Applying MAIC Procedure of Six Sigma to Enhance Process Quality of TFT-LCD Panels |
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作者 | 陳坤盛; 王靖欣; 陳細鈿; Chen, Kuen-suan; Wang, Ching-hsin; Chen, His-tien; |
期刊 | 智慧科技與應用統計學報 |
出版日期 | 20041200 |
卷期 | 2:2 2004.12[民93.12] |
頁次 | 頁1-18 |
分類號 | 448.5 |
語文 | chi |
關鍵詞 | TFT-LCD面板製程; 六標準差; 製程能力弱度指標; 管制圖; C抅抅; The process of LCD panels; Six sigma; Process incapability index; Control chart; |