查詢結果分析
來源資料
頁籤選單縮合
題名 | 新世代場發射穿透式電子顯微鏡應用在工研院奈米檢測研究之概況= |
---|---|
作者 | 羅聖全; 江正誠; 林智仁; 陳淑貞; 林麗娟; 洪健龍; |
期刊 | 工業材料 |
出版日期 | 20040900 |
卷期 | 213 2004.09[民93.09] |
頁次 | 頁149-155 |
分類號 | 440.12 |
語文 | chi |
關鍵詞 | 場發射穿透式電子顯微境; 電子能量損失譜儀; 高角度環狀偵測器; 掃瞄影像觀測元件; 數位掃瞄影像擷取系統; JEOL JEM-2100F; FETEM; EELS; High-Angle Annular Detector; Scanning image observation device; Digiscan image acquisition system; |