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題名 | 原子力顯微鏡量測技術研究=The Study of Measurement Technology of the Atomic Force Microscope |
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作者 | 黃仁清; 李志偉; Huang, Jen-chung; Lee, Jyh-wei; |
期刊 | 東南學報 |
出版日期 | 20040200 |
卷期 | 26 2004.02[民93.02] |
頁次 | 頁41-52 |
分類號 | 337.97 |
語文 | chi |
關鍵詞 | 原子力顯微鏡; 奈米技術; Atomic force microscope; AFM; Nanotechnology; |