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題 名 | FE-SEM/CL/EBSD分析技術簡介 |
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作 者 | 黃宏勝; 林麗娟; | 書刊名 | 工業材料 |
卷 期 | 201 2003.09[民92.09] |
頁 次 | 頁99-108 |
專 輯 | 檢測技術在奈米科技之應用專題 |
分類號 | 440.12 |
關鍵詞 | 陰極發光; CL光譜圖; CL影像; 電子背向散射繞射; 取向影像顯微術; Cathodoluminescence; CL; CL spectrum; CL image; Electron back-scattered diffraction; EBSD; Orientation imaging microscopy; OIM; |
語 文 | 中文(Chinese) |