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題名 | 電子斑點干涉術在平板以及裂紋體的全場量測與分析=The Full Field Displacement Measurement of Plates and Cracked Bodies by Using the Electronic Speckle Pattern Interferometry |
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作者 | 馬劍清; 王瑞隆; Ma, Chien-ching; Wang, Ray-rong; |
期刊 | 力學 |
出版日期 | 19970300 |
卷期 | 13:1 1997.03[民86.03] |
頁次 | 頁21-32 |
分類號 | 440.12 |
語文 | chi |
關鍵詞 | 電子斑點干涉術; 平板; 全場量測; Electronic speckle pattern interferometry; Plate; Cracked body; Full field measurement; |
中文摘要 | 本文應用電子斑點干涉術(ESPI)並針對平板(面外位移)及裂紋張開形狀(面 內位移)作全場變形量測,文中以兩種厚度不同的平板來做實驗量測的探討,我們發現古典 的板理論皆能預估這兩種不同厚度平板的全場位移分佈。在裂紋體的破壞分析中,裂紋面的 張開位移量測是相當重要且必須的資料,電子斑點干涉術不同於傳統使用應變規之特點為其 不需特別的表面處理便可準確的量測裂紋面上任何兩點間的張開位移,本文獲得了裂紋邊上 的張開位移可以裂紋尖端附近變形場加以近似的初步結果。 |
英文摘要 | In this study, the Electronic Speckle Pattern Interferometry (ESPI) is used for measuring the full field deformation of plates ( out-of-plane displacement ) and crack opening profile ( in-plane displacement ). Two different thickness of the plate is used for experimental investigation, and we found that the classical theory of plate can accurately predict the full field displacement for both cases. Accruate measurements of crack profiles are neccessary for fracture analysis on cracked bodies. Unlike traditional strain gage method, ESPI require no special surface preparation or attachments and displacements between any two arbitrary points on the crack surface can be measured. It is indicated in this paper that the crack profile of the edge crack can be approximated by the near tip displacement field. |
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