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來源資料
工業材料
163 2000.07[民89.07]
頁175-183
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匯出書目
題名
應用於IC構裝--覆晶檢測之聲學顯微鏡技術簡介=
作者
蕭祝阴
;
施能謙
;
朱時梁
;
期刊
工業材料
出版日期
200007
卷期
163 2000.07[民89.07]
頁次
頁175-183
分類號
448.552
語文
chi
關鍵詞
IC構裝
;
覆晶
;
檢測
;
聲學顯微鏡
;
聲微型成像
;
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