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題名 | EMC/OATS天線校正技術研究= |
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作者 | 蔡榮鈞; |
期刊 | 電子檢測與品管 |
出版日期 | 19981000 |
卷期 | 36 1998.10[民87.10] |
頁次 | 頁34-42 |
分類號 | 448.813 |
語文 | chi |
關鍵詞 | 標準場地法; 量測不確定度; 網路分析儀; 天線因子; VSWR; OATS; |
中文摘要 | 本次技街研究是以 ANSI C63.5.-988之標準場地法 (Standard Site Method;SSM) 配合 三天線法 (Three Antenna Method),以校正條件: 發射(源)與量測〈接收〉天線之間距離 3米及 10 米; 發射天線高度固定高度 1 米與2米; 及接收天線上下掃瞄高度從 1 米至 4 米之變化,分別校正:(3OMHz-300MHz) 雙錐形、以及 (200MHz-lGHz) 對數週期型 , 兩種 EMI 輯射放射量測用寬頭天線之天線因子(AF;Antenna Factor )。所得校正數接各自再與天線製造商 (美國 EMC0)所提供原始校正數接比對之結果 ,發現在發射天線高度固定在 2 米時 , 受校天線之AF值較為接近原始校正數據;其實際量測誤差之最大偏移量 (Maximal Deviation) 為0.8(dB)/-2.2(dB), 而 EMC0 天線之原始數據量測不確定度為± 2(dB);除可證明實驗之校正數據係為可靠外 , 也確定指定實驗場地以ANSI C63.5作校正天線時之發射天線高度最好在 2 米。另外, 亦研究電壓駐波比 (VSWR;Voltage Standing -Wave Ratio)與接收天線離地高度之關係式。根據天線網路理論 (Antenna Network Theorem ) 或假象理論 (image Theorem ) , 可得知天線之AF與其離地高度及天線之間距離有關。故以網路分析儀作 VSWR 之量測研究 , 而自實驗結果推說 : 天線因子的(A F) 是工作頻率 (F) 、量測距離(D) 、及天線高度 (H) 之函數。且探討以作之研究 , 進行 EMI/RE 量測 |
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