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兩種晶圓缺陷辨識技術之比較:Comparison of Two Wafer-Scale Defect Cluster Identifiers
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
13(上) 民91.06
- 頁 次:
頁1-22
- 題 名:
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- 題 名:
設計的「新穎」≠專利的「新穎」:"Innovation" as a Term of Design Does not Equal "Innovation" as a Term of Patent
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
105 民91.06-07
- 頁 次:
頁52-53
- 題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
234 2002.09[民91.09]
- 頁 次:
頁120-127
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- 題 名:
兩岸專利法設計保護規定之解讀:Deciphering Design Patent Protection Rules of Taiwan & Mainland China
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
109 民92.02-03
- 頁 次:
頁68-70
- 題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
246 2003.06[民92.06]
- 頁 次:
頁9-16
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
33 2003.01[民92.01]
- 頁 次:
頁125-137
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
101 2001.10[民90.10]
- 頁 次:
頁54-55
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
10:1 1993.05[民82.05]
- 頁 次:
頁47-69
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- 題 名:
應用於太陽光電薄膜製程之大面積電漿源技術:A Large-Area Plasma Source for Solar Cell Thin-Film Processing
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
290 2007.05[民96.05]
- 頁 次:
頁63-70
- 題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
290 2007.05[民96.05]
- 頁 次:
頁82-87
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
27 2007.06[民96.06]
- 頁 次:
頁157-164
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- 題 名:
從美、日、韓設計專利優先審查制度探討我國引進之必要性:The Study on the Accelerated Examination for Design Patent
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
101 2007.05[民96.05]
- 頁 次:
頁5-29
- 題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
15:5=173 1984.05[民73.05]
- 頁 次:
頁377-380
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
30 2002.04[民91.04]
- 頁 次:
頁84-89
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
36 2003.10[民92.10]
- 頁 次:
頁139-150
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
314 2009.05[民98.05]
- 頁 次:
頁81-87
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
23:2 2010.06[民99.06]
- 頁 次:
頁56-61
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- 題 名:
韓國設計保護制度及發展概況介紹:Introduction to the Design Protection System and Development in Korea
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
133 2010.01[民99.01]
- 頁 次:
頁31-68
- 題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
31:5=358 2005.05[民94.05]
- 頁 次:
頁104-113
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
350 2012.05[民101.05]
- 頁 次:
頁84-90