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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
80 2001.07[民90.07]
- 頁 次:
頁15-20
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
80 2001.07[民90.07]
- 頁 次:
頁27-31
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
25:3 2003.06[民92.06]
- 頁 次:
頁400-404
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題 名:
電性掃描探針顯微術簡介:Introduction to Electric Scanning Probe Microscopy
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
24:3=131 2002.12[民91.12]
- 頁 次:
頁27-39
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
23:6=128 2002.06[民91.06]
- 頁 次:
頁61-67
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題 名:
原子探針之微結構特性分析:Characteristics of Atomic Probe Microstructure for Scanning Probe Microscope
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
5:2 2003.06[民92.06]
- 頁 次:
頁205-222
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
93 2003.09[民92.09]
- 頁 次:
頁31-34
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
93 2003.09[民92.09]
- 頁 次:
頁35-44
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
25:5 2003.10[民92.10]
- 頁 次:
頁632-648
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
25:5 2003.10[民92.10]
- 頁 次:
頁660-669
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題 名:
掃描探針顯微術的原理及應用:Scanning Probe Microscopy: Principles and Applications
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
26:4=144 2005.02[民94.02]
- 頁 次:
頁7-17
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
26:4=144 2005.02[民94.02]
- 頁 次:
頁18-27
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題 名:
掃描探針顯微術於光電檢測之機制:Mechanisms of Scanning Probe Microscopy in Electro-Optical Analysis
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
26:6=146 2005.06[民94.06]
- 頁 次:
頁52-62
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題 名:
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題 名:
淺談奈米壓痕技術及其應用:The Nanoindentation Technology and It's Application
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
17 民95.04
- 頁 次:
頁84-94
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
36:2 2014.04[民103.04]
- 頁 次:
頁95-99
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
213 2004.09[民93.09]
- 頁 次:
頁140-148
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
10:1=102 2004.01[民93.01]
- 頁 次:
頁150-160
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題 名:
超精密量測與致動系統:Ultra-High Precision Measurement and Positioning System
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
203 2015.06[民104.06]
- 頁 次:
頁61-71
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
17 2009.06[民98.06]
- 頁 次:
頁19-45
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題 名:
奈米表面檢測技術之回顧:Review of Nanometer-Scale Surface Analysis Technology
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
25:4=138 2004.02[民93.02]
- 頁 次:
頁99-108
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題 名: