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HBM靜電放電測試系統之二次電性過應力事件的形成與抑制:
何正江 Meuse,Tom; Ting,Larry; Schichl,Joe; Barrett,Robert; Bennett,David; Cline,Roger; Duvvury,Charvaka; Hopkins,Michael; Kunz,Hans; Leiserson,John; Steinhoff,Robert;
電子月刊
11:5=118 2005.05[民94.05]
頁166-172
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