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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
15:6 1999.11[民88.11]
- 頁 次:
頁899-911
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題 名:
Configuration Free SOC Interconnect BIST Methodology:與設計無關之單晶片系統連接線自我測試方法
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
8:4 2001.11[民90.11]
- 頁 次:
頁377-386
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
16:5 2000.09[民89.09]
- 頁 次:
頁687-702
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題 名:
CCL JAVA整合型晶片測試方法:Testing Method for CCL JAVA Based System on Chip
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
90 2000.06[民89.06]
- 頁 次:
頁65-68
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
70 1998.06[民87.06]
- 頁 次:
頁41-51
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題 名:
System-on-Chip及Mixed-Signal測試發展趨勢:The Trend of System-on-Chip and Mixed-Signal Testing
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
70 1998.06[民87.06]
- 頁 次:
頁60-66
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
26 1994.02[民83.02]
- 頁 次:
頁9-16
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
37 1995.03[民84.03]
- 頁 次:
頁20-28
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
165 民94.07
- 頁 次:
頁76-78+80
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
154 2013.12[民102.12]
- 頁 次:
頁5-10
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題 名:
Test Slice Difference Technique for Low-Transition Test Data Compression:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
15:2 2012.06[民101.06]
- 頁 次:
頁157-166
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
34:4 2011.06[民100.06]
- 頁 次:
頁515-527
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題 名:
An Efficient Algorithm to Selectively Gate Scan Cells for Capture Power Reduction:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
14:1 2011.03[民100.03]
- 頁 次:
頁39-48
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
28:6 2012.11[民101.11]
- 頁 次:
頁1091-1104
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