查詢結果
檢索結果筆數(2)。 各著作權人授權國家圖書館,敬請洽詢 nclper@ncl.edu.tw
-
-
題 名:
On the Searching Patterns for Backward-Type Sequential Circuit Test Generation:逆向型序向電路測試圖樣產生法之策略研究
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
20 1998.07[民87.07]
- 頁 次:
頁315+317-337
-
題 名:
-
-
題 名:
A Directed-Search Test Generation System for Sequential Circuits:導向搜尋法之序向電路測試信號產生器
- 作 者:
- 書刊名:
Proceedings of the National Science Council : Part A, Physical Science and Engineering
- 卷 期:
16:1 1992.01[民81.01]
- 頁 次:
頁55-62
-
題 名: