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檢索結果筆數(12)。 各著作權人授權國家圖書館,敬請洽詢 nclper@ncl.edu.tw
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
53:4=628 2022.04[民111.04]
- 頁 次:
頁40-45
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
232 2022.09[民111.09]
- 頁 次:
頁9-25
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
232 2022.09[民111.09]
- 頁 次:
頁26-32
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題 名:
材料原子尺度臨場穿透式電子顯微鏡觀察:Atomic-scale Observation of Materials via In-situ TEM
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
232 2022.09[民111.09]
- 頁 次:
頁33-47
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題 名:
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
232 2022.09[民111.09]
- 頁 次:
頁48-58
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題 名:
原子針尖斷層影像儀之半導體元件分析應用:Applications of Atom Probe Tomography to Semiconductor Devices
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
232 2022.09[民111.09]
- 頁 次:
頁59-70
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題 名:
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題 名:
淺談TEM分析上常見的主要困惑:A Short Summary of Some Typical Puzzles in TEM Analyses
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
232 2022.09[民111.09]
- 頁 次:
頁71-86
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題 名:
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題 名:
三維電子斷層顯微重構技術於半導體元件結構分析:3D Electron Tomography for Semiconductor Device Structure Analysis
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
422 2022.02[民111.02]
- 頁 次:
頁43-51
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題 名:
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題 名:
穿透式電子顯微鏡的臨場觀測介紹:Introduction to In-situ Observation in Transmission Electron Microscope
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
35:1 2022.03[民111.03]
- 頁 次:
頁9-20
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題 名:
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
35:1 2022.03[民111.03]
- 頁 次:
頁41-51
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
35:4 2022.12[民111.12]
- 頁 次:
頁30-39
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
155 2022.06[民111.06]
- 頁 次:
頁29-39