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檢索結果筆數(8)。 各著作權人授權國家圖書館,敬請洽詢 nclper@ncl.edu.tw
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- 題 名:
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- 書刊名:
- 卷 期:
29:2=160 2007.10[民96.10]
- 頁 次:
頁51-60
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題 名:
TEM影像軟體中畫素對於量測不確定度之影響:The Effects of Image Pixels on the Uncertainty of TEM Measurement
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
29:3=161 2007.12[民96.12]
- 頁 次:
頁72-81
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題 名:
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
15:3=168 2007.03[民96.03]
- 頁 次:
頁134-150
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題 名:
材料奈米檢測技術在工研院之研究成果介紹:Introduction to Nanoscale Characterization Techniques in ITRI
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
8 2007.03[民96.03]
- 頁 次:
頁15-24
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題 名:
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
13:6=143 2007.06[民96.06]
- 頁 次:
頁150-158
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
246 2007.06[民96.06]
- 頁 次:
頁185-190
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
252 2007.12[民96.12]
- 頁 次:
頁143-150
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
251 2007.11[民96.11]
- 頁 次:
頁107-115