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題 名:
On the Searching Patterns for Backward-Type Sequential Circuit Test Generation:逆向型序向電路測試圖樣產生法之策略研究
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
20 1998.07[民87.07]
- 頁 次:
頁315+317-337
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題 名: