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題 名:
半導體元件可靠度簡介--熱載子效應:Semiconductor Device Reliability--Hot Carrier Effect
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
62 1997.09[民86.09]
- 頁 次:
頁53-58
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題 名:
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
32(人文.社會篇) 民86.11
- 頁 次:
頁151-166
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
6:2 1997.06[民86.06]
- 頁 次:
頁79-85