查詢結果
檢索結果筆數(6)。 各著作權人授權國家圖書館,敬請洽詢 nclper@ncl.edu.tw
-
- 題 名:
Core-Based System-on-Chip Testing: Challenges and Opportunities:核心系統晶片測試--挑戰與機會
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
8:4 2001.11[民90.11]
- 頁 次:
頁335-353
- 題 名:
-
- 題 名:
Fast Deterministic Test Pattern Generation for Scan-Based BIST Environment:掃描植入式自我測試環境之快速特定測試向量產生器
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
8:4 2001.11[民90.11]
- 頁 次:
頁365-376
- 題 名:
-
- 題 名:
Configuration Free SOC Interconnect BIST Methodology:與設計無關之單晶片系統連接線自我測試方法
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
8:4 2001.11[民90.11]
- 頁 次:
頁377-386
- 題 名:
-
- 題 名:
A BIST Architecture for AT-Speed DRAM Testing:動態記憶體之高速自我測試電路架構
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
8:4 2001.11[民90.11]
- 頁 次:
頁387-394
- 題 名:
-
- 題 名:
Self-Tuning Speed Controller Design of Vector Control Induction Motor Drives:向量控制感應電動機速度控制器之自我調適設計
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
7:4 2000.11[民89.11]
- 頁 次:
頁263-273
- 題 名:
-
- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
4:3 1997.08[民86.08]
- 頁 次:
頁199-208