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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
34:6 2011.09[民100.09]
- 頁 次:
頁793-800
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- 題 名:
Electrical Analyses of Charge Trapping and Stress-Induced Leakage Current in CeO₂ Gate Dielectric:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
37:3 2014.04[民103.04]
- 頁 次:
頁407-412
- 題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
38:3 2015.04[民104.04]
- 頁 次:
頁297-303