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- 卷 期:
15:3 1998.05[民87.05]
- 頁 次:
頁255-267
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- 題 名:
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- 卷 期:
16:2 1999.03[民88.03]
- 頁 次:
頁183-194
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- 題 名:
以限制理論為基礎之晶圓製造廠派工法則:A Toc-Based Dispatching Rule for Semiconductor Wafer Fabrication
- 作 者:
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- 卷 期:
16:2 1999.03[民88.03]
- 頁 次:
頁209-220
- 題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
16:1 1999.01[民88.01]
- 頁 次:
頁13-37
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- 題 名:
晶圓製造廠生產作業控制策略之設計:The Design of Production Activity Control Policy for Wafer Fabrication Factories
- 作 者:
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- 卷 期:
16:1 1999.01[民88.01]
- 頁 次:
頁93-113
- 題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
17:2 2000.03[民89.03]
- 頁 次:
頁133-146
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
19:2 2002.03[民91.03]
- 頁 次:
頁23-38
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- 題 名:
控擋片降級選擇之管理:Downgrading Management for Control and Dummy Wafers
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
17:4 2000.07[民89.07]
- 頁 次:
頁437-449
- 題 名:
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- 題 名:
A Vision-Measuring Method for an Imperfect Circle:影像量測瘕疵圓之方法
- 作 者:
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- 卷 期:
22:1 民94.01
- 頁 次:
頁38-45
- 題 名:
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- 題 名:
Simulation Optimization with PSO and OCBA for Semiconductor Back-End Assembly:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
30:7 2013.10[民102.10]
- 頁 次:
頁452-460
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
4 民69.06
- 頁 次:
頁22-31
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
23:4 民95.07
- 頁 次:
頁269-279
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- 題 名:
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- 書刊名:
- 卷 期:
25:1 2008.01[民97.01]
- 頁 次:
頁18-30
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- 題 名:
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- 卷 期:
33:3 2016.04[民105.04]
- 頁 次:
頁151-168