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- 題 名:
Built-in self testing for complex digital integrated circuits:數位積體電路內建自測線路之研究
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
6 1991.01[民80.01]
- 頁 次:
頁207-222
- 題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
25:2 1992.06[民81.06]
- 頁 次:
頁119-136
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
8 1993.02[民82.02]
- 頁 次:
頁35-52
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- 題 名:
l/f Noise in Aluminium Films of VLSI Interconnections:VLSI鋁薄膜連線的l/f 雜訊
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
24 1991.03[民80.03]
- 頁 次:
頁359-375
- 題 名:
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- 題 名:
Requirements Specification And Analysis Of Fault-Tolerant Hardware Systems:容錯硬體系統之要件規範及分析
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
25 1993.05[民82.05]
- 頁 次:
頁111-122
- 題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
17 1984.04[民73.04]
- 頁 次:
頁455-467
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
18 1988.12[民77.12]
- 頁 次:
頁371-405
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
17 1985.05[民74.05]
- 頁 次:
頁19-40