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- 題 名:
An Object-Based Approach for Bare PCB Inspection:一種建構於物件的印刷電路板基板檢視方法
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
23:5 2002.10[民91.10]
- 頁 次:
頁467-473
- 題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
13:2 2002.07[民91.07]
- 頁 次:
頁91-96
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- 題 名:
運用CAIP於基板設計之檢測:Using CAIP for Inspection of Substrate Design
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
20:2 2003.03[民92.03]
- 頁 次:
頁169-176
- 題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
13:1 1990.01[民79.01]
- 頁 次:
頁45-51
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
31:5 2010.10[民99.10]
- 頁 次:
頁435-442
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
8:4 2013.10[民102.10]
- 頁 次:
頁191-195
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
15:2 2004.07[民93.07]
- 頁 次:
頁109-118
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
16:1 2005.03[民94.03]
- 頁 次:
頁45-50