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題 名:
氧化鉿薄膜之漏電流分析:Leakage Current Mechanism of HfO[feaf] Thin Film Capacitors
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
12 1999.06[民88.06]
- 頁 次:
頁79-89
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題 名:
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
8 2001.09[民90.09]
- 頁 次:
頁97-102
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
8 2001.09[民90.09]
- 頁 次:
頁267-272
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
9 1992.11[民81.11]
- 頁 次:
頁329-339
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題 名:
Transport Critical Current in Y-Ba-Cu-O Thin Films Prepared by DC Sputtering:直流濺鍍製作之釔鋇銅氧薄膜的傳輸臨界電流
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
21 1992.12[民81.12]
- 頁 次:
頁31-37
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題 名:
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
13 2010.05[民99.05]
- 頁 次:
頁(B3)1-(B3)8
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題 名:
二氧化鈦電阻式記憶體之特性:Characteristics of TiO₂ Resistive Random Access Memory
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
36:1 2011.04[民100.04]
- 頁 次:
頁25-34
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題 名:
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
34:4 2009.12[民98.12]
- 頁 次:
頁11-15
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
17 2008.09[民97.09]
- 頁 次:
頁99-117