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- 題 名:
An Accurate Determination of P狇Silicon Layer Thickness for Microstructures:微結構的高濃度摻硼薄膜厚度的精確測定
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
5:2 1998.05[民87.05]
- 頁 次:
頁107-111
- 題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
14:2 1999.06[民88.06]
- 頁 次:
頁191-196
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
171 2001.03[民90.03]
- 頁 次:
頁116-121
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
183 2002.03[民91.03]
- 頁 次:
頁161-164
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- 題 名:
Doping Properties of Pr[feaf]O[feb0]Associate InGaAs Epitaxy:三氧化二鐠在砷化鎵磊晶層中之參雜特性
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
25:2 1997.01[民86.01]
- 頁 次:
頁187-193
- 題 名:
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- 題 名:
Analysis of Spacer Width and Source-Drain Doping on PMOS Characteristics:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
1 1996.06[民85.06]
- 頁 次:
頁177-189
- 題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
2 1997.06[民86.06]
- 頁 次:
頁151+153-162
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
27:2 1995.06[民84.06]
- 頁 次:
頁147-150
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- 題 名:
The Effect of Doping Profile Variations upon Deep Submicrometer MOSFET's:摻雜濃度分佈變化對深次微米金氧半場效電晶體的效應
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
2:1 1995.02[民84.02]
- 頁 次:
頁1-6
- 題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
152 1990.08[民79.08]
- 頁 次:
頁1-17
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
26:1 民94.02
- 頁 次:
頁35-43
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
30:3 1987.06[民76.06]
- 頁 次:
頁180-187
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
4 1984.06[民73.06]
- 頁 次:
頁左203-209
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- 題 名:
在先進製程下積體電路設計之非理想效應模擬:The Simulation of Non-ideal Effect of VLSI Design in Advanced Process
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
150 2013.04[民102.04]
- 頁 次:
頁12-18
- 題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
326 2014.02[民103.02]
- 頁 次:
頁79-84
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
16:4 2004.04[民93.04]
- 頁 次:
頁6-11
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
13 2004.10[民93.10]
- 頁 次:
頁85-93
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- 題 名:
平面自動噴塗的規劃分析:Programming Analysis of Automatic Spraying at Planar Intersection
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
35:1 2015.10[民104.10]
- 頁 次:
頁49-65
- 題 名:
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- 題 名:
筒式煤倉安全監測系統之規劃:The Configuration of Safety Detection and Monitoring System for a Coal Storage Silo
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
812 2016.04[民105.04]
- 頁 次:
頁117-122
- 題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
7:3 1992.09[民81.09]
- 頁 次:
頁269-277