刊名
類目
出版年
資料類型
檢索結果筆數(1)。 各著作權人授權國家圖書館,敬請洽詢 nclper@ncl.edu.tw
在搜尋的結果範圍內查詢:
全部
排序
每頁顯示
1
以反射係數及相位測量薄膜的光學常數及厚度研究:
朱正煒 李正中
光學工程
61 1998.03[民87.03]
頁5-13
TCI引用統計