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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
22:3=119 2000.12[民89.12]
- 頁 次:
頁37-46
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題 名:
半導體元件可靠度簡介--熱載子效應:Semiconductor Device Reliability--Hot Carrier Effect
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
62 1997.09[民86.09]
- 頁 次:
頁53-58
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題 名:
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題 名:
閘控串聯電容器設備介紹:An Introduction to Thyristor Controlled Series Capacitor
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
583 1997.03[民86.03]
- 頁 次:
頁60-74
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
21:2=177 1996.04[民85.04]
- 頁 次:
頁197-204
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
16:10=183 2010.10[民99.10]
- 頁 次:
頁120-134
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
19:2 民95.11
- 頁 次:
頁44-49
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
12 民95.07
- 頁 次:
頁57-68
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
30:1=165 2008.08[民97.08]
- 頁 次:
頁81-89
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
21:6 2023.11[民112.11]
- 頁 次:
頁34-48
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題 名:
常壓電漿系統於快速質譜分析術之應用:Atmospheric Pressure Plasma for Rapid Mass Spectrometry Detection
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
227 2021.06[民110.06]
- 頁 次:
頁60-72
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題 名:
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- 題 名:
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- 書刊名:
- 卷 期:
32:2 2020.05[民109.05]
- 頁 次:
頁68-72